行业知识
新闻资讯
联系我们
联系人： 周先生
手机： 15917453768
电话： 020-38880135 020-38880857
邮箱： sales01#gzyuli.com
地址： 广东省广州市天河区棠东官育路22号B239房
行业知识
光学薄膜检测技术-基于于涉型的光谱分析系统
作者： 发布时间：2023-11-08 10:01:33点击：39
光学薄膜检测技术-基于于涉型的光谱分析系统
红外光谱仪主要是指在光谱 2.5~25um 区域进行光谱测试分析的仪器。在红外区域，人们往往采用波数来表示光波的波长 (波数是波长的倒数，单位为cm-')。色散型红外光谱仪器的主要不足是扫描速度慢，探测器灵敏度低，分辨率低。因此，目前几乎所有的红外光谱仪都是傅里叶变换型的。红外傅里叶变换光谱仪 (IR-FT) 是基于干涉原理的光谱分析系统，主要应用于红外光谱区域是红外波段的主要光谱分析仪器。
红外傅里叶变换光谱仪的基本原理是:应用麦克尔逊干涉仪对不同波长的光信号进行频率调制，在频率域内记录干涉强度随光程差改变的完全干涉图信号并对此干涉图进行傅里叶逆变换，得到被测光的光谱。图 3-4 为该类型仪器的工作原理示意图。
相关标签：
- 上一个：光学薄膜检测技术-分光光度计的基本原理
- 下一个：光学薄膜检测技术-薄膜透过率测量
新闻资讯
-
2023-11-30 10:01:38
光学薄膜检测技术-阈值的确定
-
2023-11-29 10:05:10
光学薄膜检测技术-阈值测试过程
-
2023-11-28 10:01:24
光学薄膜检测技术-测试前的准备工作
-
2023-11-23 10:01:38
光学薄膜检测技术-激光损伤测试装置
-
2023-11-22 10:02:55
光学薄膜检测技术-几类激光损伤阈值测量方法介绍
-
2023-11-21 10:27:49
光学薄膜检测技术-光学薄膜损伤测量标准及判定
客服1 
客服2