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西格玛光机-薄膜计算软件（Essential Macleod）
从透过率·反射率的波长特性信息来决定镀膜的薄膜结构时，需要薄膜计算软件。
薄膜计算软件除薄膜的设计之外，也可以用于模拟改变实验条件时的镀膜的光学特性的变化。
Essential Macleod虽然是专业用的工具，但是初学者也可以使用这个具有直觉操作特征的薄膜计算软件。
◦［Essential Macleod］是关于光学薄膜的［THIN-FILM OPTICAL FILTERS（光学薄膜）］等著作的著名作者Angus Macleod开发的Windows@专用的光学薄膜设计软件。
◦具有丰富的光学薄膜特性的模拟，自动化计算，镀膜材料的数据库等光学薄膜设计中需要的高水准的性能。
〈开发商〉Thin Film Center Inc.
2745 East Via Rotonda, Tucson, AZ 85716-5227
TEL: +1-520-322-6171 FAX: +1-520-325-8721
※Essential Macleod是Thin Film Center lnc. 公司的标志和注册商标。
※Windows@是美国微软公司的注册商标。
注意
▶与其它软件的相互作用有时可能会导致不能运行。推荐使用专用的PC机。
▶价格有时会随汇率，性能的升级等而产生变动。请另外问询。
型号 | 名称 |
EMS-1 | 薄膜计算软件(Essential Macleod) |
■光学薄膜特性的模拟
薄膜的透过率·反射率的模拟
透过光·反射光的相位变化的模拟
薄膜厚度的误差影响的模拟
群速度分散等的模拟
■优化的自动计算
透过率·反射率
P·S偏光的相位变化
透过光·反射光的相位变化
■镀膜材料的数据库
主要镀膜材料的光学常数（n·k）的数据库
以多种情报为基础的数据库管理
从分光特性的实际测量值计算光学常数
镀膜材料的色散数据的制作
■其他机能
群速度分散的计算
薄膜电场分布解析
薄膜和玻璃基板组合时的透过率计
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